| Titre : | X-RAY SCATTERING TECHNIQUES FOR EPITAXIAL OXIDE THIN FILMS |
| Auteurs : | Daniel Sando, Éditeur scientifique ; Paul G. Evans, Éditeur scientifique ; Nagarajan Valanoor, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Singapore : Springer, 2025 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-981-9659-44-9 |
| Format : | viii-186 p. / 25 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) |
| Mots-clés | Crystallography , Epitaxy , X-ray diffraction , X-ray microanalysis , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 009909 | PMC2 SAN | papier | CNRS | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) | Sorti jusqu'au 19/01/2026 |
