| Titre : | EXAFS : Basic principles and data analysis. With 88 figures and 17 tables |
| Auteurs : | Boon K. Teo, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Berlin : Springer-Verlag, 1986 |
| Collection : | Inorganic Chemistry Concepts, num. 9 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-3-540-15833-2 |
| Format : | xviii-349 p. / 25 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Data analysis , Electrons , Scattering , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 009674 | TECH2 TEO | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
