| Titre : | PRACTICAL ELECTRON MICROSCOPY OF LATTICE DEFECTS |
| Auteurs : | Hiroyasu Saka, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New Jersey NJ : World Scientific, 2021 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-981-1234699-- |
| Format : | xiv-294 p. / 24 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Crystallography , Crystals , Defects , Dislocations , Electron microscopy |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 009606 | TECH2 SAK | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
