| Titre : | X-RAY MICROSCOPY |
| Auteurs : | Chris Jacobsen, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Cambridge : Cambridge University Press, 2020 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-1-107-07657-0 |
| Format : | xiv-579 p. / 26 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Spectroscopy , X-ray diffraction , X-ray microanalysis , X-ray spectroscopy , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 009571 | TECH2 JAC | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
