| Titre : | THIN FILM ANALYSIS BY X-RAY SCATTERING |
| Auteurs : | Mario Birkholz, Auteur ; Paul F. Fewster ; Christoph Genzel |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Weinheim : Wiley/VCH, 2006 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-3-527-31052-4 |
| Format : | xxii-356 p. / 25 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) |
| Mots-clés | Diffraction , Thin films , X-ray spectroscopy , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 008875 | PMC13 BIR | papier | CNRS | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) | Disponible |
