| Titre : | IN-SITU MICROSCOPY IN MATERIALS RESEARCH : Leading international research in electron and scanning probe microscopies |
| Auteurs : | Pratibha L. Gai, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Boston MA : Kluwer Academic Publishers, 1997 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-7923-9989-6 |
| Format : | xviii-336 p. / 24 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Electron microscopy , Materials science , Microscopy , Scanning tunneling microscopy |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 008553 | TECH2 GAI | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
