| Titre : | NANOSCALE CALIBRATION STANDARDS AND METHODS : Dimensional and related measurements in the micro- and nanometer range |
| Auteurs : | Günter Wilkening, Éditeur scientifique ; Ludger Koenders, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Weinheim : Wiley/VCH, 2005 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-3-527-40502-2 |
| Format : | xxii-519 p. / 25 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Instrumentation , Nanoscale , Nanostructure , Scanning tunneling microscopy , Surface physics |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 008185 | TECH1 WIL | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
