| Titre : | OPTICAL CHARACTERIZATION OF EPITAXIAL SEMICONDUCTOR LAYERS : With 271 figures |
| Auteurs : | Günther Bauer, Éditeur scientifique ; Wolfgang Richter, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Berlin : Springer, 1996 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-3-540-59129-0 |
| Format : | xiv-427 p. / 24 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Crystal growth , Epitaxy , Optical properties , Semiconductors |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
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| 007972 | TECH2 BAU | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
