| Titre : | HIGH-RESOLUTION X-RAY SCATTERING : From thin films to lateral nanostructures. Second edition. With 240 figures |
| Auteurs : | Ullrich Pietsch, Auteur ; Vaclav Holy ; Tilo Baumbach |
| Type de document : | texte imprimé |
| Mention d'édition : | 2nd ed. |
| Editeur : | New York NY : Springer, 2004 |
| Collection : | Advanced Texts in Physics |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-387-40092-1 |
| Format : | xvi-408 p. / 24 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) |
| Mots-clés | Diffraction , Nanoparticles , Scattering , Thin films , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 007714 | PMC2 PIE | papier | CNRS | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) | Disponible |
