| Titre : | TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY : Physics of Image Formation and Microanalysis |
| Auteurs : | Ludwig Reimer, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Mention d'édition : | 3rd ed. |
| Editeur : | Berlin : Springer-Verlag, 1993 |
| Collection : | Springer Series in Optical Sciences, num. 36 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-3-540-56849-0 |
| Format : | 545 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Electron diffraction , Electron microscopy |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
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| 006770 PERDU | TECH2 REI | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Exclu du prêt |
