| Titre : | RECENT ADVANCES IN X-RAY CHARACTERIZATION OF MATERIALS II |
| Auteurs : | P. Krishna, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Oxford : Pergamon Press, 1989 |
| Collection : | Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials, num. 18 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-08-037368-3 |
| Format : | 272 p. / 26 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) |
| Mots-clés | Layered structures , Thin films , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
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| 006407 | PMC2 KRI | papier | CNRS | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) | Disponible |
