| Titre : | FUNDAMENTALS OF SURFACE AND THIN FILM ANALYSIS |
| Auteurs : | J.w. Mayer ; Leonard C. Feldman, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Amsterdam : North-Holland, 1986 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-444-00989-0 |
| Format : | 354 p. / 24 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) |
| Mots-clés | Analysis , Surface , Thin films |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 005901 | PMC12 FEL | papier | CNRS | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) | Disponible |
