| Titre : | ADVANCED SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS |
| Auteurs : | D.e. Newbury, Auteur ; D.c. Joy ; P. Echlin ; C.e. Fiori ; J.i. Goldstein |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York NY : Plenum Press, 1986 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-306-42140-2 |
| Format : | 454 p. / 24 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Chemical analysis , Electron microscopy , Microanalysis , Scanning electron microscope , X-ray microanalysis , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 005846 | TECH2 NEW | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
