Bibliothèque du groupe de laboratoires de physique

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MOS (METAL OXIDE SEMICONDUCTOR) PHYSICS AND TECHNOLOGY

E.h. Nicollian, Auteur ; J.r. Brews | New York NY : John Wiley & Sons | 1982

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B. SILICON INTEGRATED CIRCUITS : part B supplement 2

Dawon Kahng, Auteur | 1981

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DEFECTS AND RADIATION EFFECTS IN SEMICONDUCTORS, 1980 : Invited and contributed papers from the eleventh international conference on defects and radiation effects in semiconductors held in Oiso, Japan, 8-11 September 1980

R.r. Hasiguti, Éditeur scientifique | Bristol : Institute of Physics | Institute of Physics Conference Series | 1981

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IMPURITY DOPING PROCESSES IN SILICON

F. F. Y. Wang, Auteur | Amsterdam : North-Holland | Materials Processing - Theory and Practices | 1981

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A. SILICON INTEGRATED CIRCUITS : part A supplement 2

Dawon Kahng, Auteur | 1981

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DIELECTRIC MATERIALS, MEASUREMENTS AND APPLICATIONS : Third international conference. 10-13 September 1979

London : Institution of Electrical Engineers IEE Conference Publication 1979

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THE PHYSICS OF SiO2 AND ITS INTERFACES : Proceedings of the international topical conference, 1978

S. T. Pantelides, Auteur ; The physics of SiO2 (1978-03-22/24; NY, USA) | Oxford : Pergamon Press | 1978

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THE COMPACTED STATES OF VITREOUS SILICA

William Primak, Auteur | NEW YORK : GORDON AND BREACH | Studies in Radiation Effects in Solids | 1975

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HANDBOOK OF ELECTRONIC MATERIALS : Volume 3. I. Silicon nitride for microelectronic applications

J.t. Milek, Auteur | New York NY : Plenum Press | Handbook of Electronic Materials | 1971

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PROGRESS IN SOLID STATE CHEMISTRY : Volume 5

H. Reiss, Éditeur scientifique | Oxford : Pergamon Press | Progress in Solid State Chemistry | 1971

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SEMICONDUCTORS

Helmut F. Wolf, Auteur | New York NY : Wiley-Interscience | 1971

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FUNDAMENTALS OF SILICON INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY : Volume I. Oxidation, diffusion and epitaxy

R.m. Burger, Éditeur scientifique ; R.p. Donovan, Éditeur scientifique | Englewood NJ : Prentice-Hall | Solid State Physical Electronics Series | 1967

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PROGRESS IN SOLID STATE CHEMISTRY : Volume 3

H. Reiss, Éditeur scientifique | Oxford : Pergamon Press | Progress in Solid State Chemistry | 1967

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THE SURFACE PROPERTIES OF OXIDIZED SILICON

E. Kooi, Auteur | Eindhoven : Philips Technical Library | 1967

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NOUVEAU TRAITE DE CHIMIE MINERALE : Tome VIII. Deuxième fascicule. Silicium

R. Calas, Auteur ; P. Pascal, Auteur ; J. Wyart, Auteur ; P. Pascal, Directeur de publication | Paris : Masson et Cie | 1965

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