| Titre : | INDUSTRIAL APPLICATIONS OF X-RAY DIFFRACTION |
| Auteurs : | Frank H. Chung, Éditeur scientifique ; Deane K. Smith, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York NY : Marcel Dekker, 2000 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-8247-1992-0 |
| Format : | xiv-1006 p. / 26 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Diffraction , Synchrotron , X-ray diffraction , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 009672 | TECH8 CHU | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
