| Titre : | FIELD EMISSION SCANNING ELECTRON MICROSCOPY : New perspectives for materials characterization |
| Auteurs : | Nicolas Brodusch, Auteur ; Hendrix Demers, Auteur ; Raynald Gauvin, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Singapore : Springer, 2018 |
| Collection : | Springer Briefs in Applied Sciences and Technology |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-981-10-4432-8 |
| Format : | xii-137 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Electron diffraction , Scanning electron microscope |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 009605 | TECH2 BRO | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
