| Titre : | MODERN DEVELOPMENTS IN ELECTRON MICROSCOPY |
| Auteurs : | Benjamin M. Siegel, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York NY : Academic Press, 1964 |
| Format : | xiv-432 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Electron microscopy , Materials |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 008106 | TECH2 SIE | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
