|
Titre :
|
THIN FILMS : STRESSED AND MECHANICAL PROPERTIES II : Symposium held April 16-19, 1990, San Francisco, California, U.S.A.
|
|
Auteurs :
|
M.f. Doerner, Éditeur scientifique ;
W.c. Oliver, Éditeur scientifique ;
G.m. Pharr, Éditeur scientifique ;
F.r. Brotzen, Éditeur scientifique
|
|
Type de document :
|
texte imprimé
|
|
Editeur :
|
Pittsburgh PA : Materials Research Society, 1990
|
|
Collection :
|
Materials Research Society Symposium Proceedings, num. 188
|
|
ISBN/ISSN/EAN :
|
978-1-55899-077-7
|
|
Format :
|
xvi-364 p. / 24 cm
|
|
Langues:
|
Anglais
|
|
Index. décimale :
|
MATE (MATERIAUX)
|
|
Mots-clés
|
Adhesion
,
Deformations
,
Mechanical properties
,
Microstructures
,
Stress
,
Thin films
|
