| Titre : | ANOMALOUS X-RAY SCATTERING FOR MATERIALS CHARACTERIZATION : Atomic-scale structure determination. With 132 figures |
| Auteurs : | Yoshio Waseda, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Berlin : Springer, 2002 |
| Collection : | Springer Tracts in Modern Physics, num. 179 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-3-540-43443-6 |
| Format : | xxiv-214 p. / 24 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) |
| Mots-clés | Anomalous scattering , Structure , X-ray spectroscopy , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 007392 | PMC2 STM/S | papier | CNRS | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) | Disponible |
