Catégorie Scanning electron microscope
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Nicolas Brodusch, Auteur ; Hendrix Demers, Auteur ; Raynald Gauvin, Auteur | Singapore : Springer | Springer Briefs in Applied Sciences and Technology | 2018
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D.e. Newbury, Auteur ; D.c. Joy ; P. Echlin ; C.e. Fiori ; J.i. Goldstein | New York NY : Plenum Press | 1986
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J.i. Goldstein, Éditeur scientifique ; H. Yakowitz, Éditeur scientifique | New York NY : Plenum Press | 1975
