| Titre : | DIRECT OBSERVATION OF IMPERFECTIONS IN CRYSTALS : Proceedings of a Technical Conference held in St. Louis, Missouri, March 1-2, 1961 |
| Auteurs : | John B. Newkirk, Éditeur scientifique ; J. H. Wernick, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York NY : Interscience Publishers, 1962 |
| Format : | xii-617 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Defects , Dislocations , Microscopy , Topography |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 000686 | TECH2 NEW/C | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
