| Titre : | HIGH RESOLUTION X-RAY DIFFRACTOMETRY AND TOPOGRAPHY |
| Auteurs : | D. Keith Bowen, Auteur ; Brian K. Tanner |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | LONDON : Taylor & Francis, 1998 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-85066-758-5 |
| Format : | 251 p. / 25 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Diffraction , Scattering , Thin films , Topography , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 006993 | TECH2 BOW | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
