| Titre : | ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS : Volume 36 |
| Auteurs : | John V. Gilfrich, Auteur ; Camden R. Hubbard ; Ron Jenkins ; Deane K. Smith ; Ting C. Huang ; Michael R. James ; Gerald R. Lachance ; Paul K. Predecki ; Applications of X-r (03-07/08/92; Colorado Springs, US) |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York NY : Plenum Press, 1993 |
| Collection : | Advances in X-Ray Analysis, num. 36 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 0-306-44571-19 |
| Format : | 685 p. / 26 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Diffraction , Instrumentation , Spectrometer , Spectroscopy , X-ray spectroscopy , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 006724 | TECH2 AXR/S | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
