|
Titre :
|
ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS : Volume 3. Proceedings of the eight annual conference on applications of x-ray analysis held August 12-14, 1959
|
|
Auteurs :
|
William M. Mueller, Éditeur scientifique
|
|
Type de document :
|
texte imprimé
|
|
Editeur :
|
New York NY : Plenum Press, 1960
|
|
Collection :
|
Advances in X-Ray Analysis, num. 3
|
|
Format :
|
viii-376 p. / 24 cm
|
|
Langues:
|
Anglais
|
|
Index. décimale :
|
TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION)
|
|
Mots-clés
|
Diffraction
,
Instrumentation
,
Spectrometer
,
Spectroscopy
,
X-ray spectroscopy
,
X-rays
|
