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Titre :
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ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS : Volume 2. Proceedings of the seventh annual conference on applications of x-ray analysis held August 13-15, 1958
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Auteurs :
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William M. Mueller, Éditeur scientifique
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Type de document :
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texte imprimé
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Editeur :
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New York NY : Plenum Press, 1960
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Collection :
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Advances in X-Ray Analysis, num. 2
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Format :
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359 p. / 24 cm
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Langues:
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Anglais
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Index. décimale :
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TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION)
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Mots-clés
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Diffraction
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Instrumentation
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Spectrometer
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Spectroscopy
,
X-ray spectroscopy
,
X-rays
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