| Titre : | POINT DEFECTS IN SEMICONDUCTORS II : Experimental Aspects |
| Auteurs : | Jacques Bourgoin, Auteur ; M. Lannoo |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Berlin : Springer-Verlag, 1983 |
| Collection : | Springer Series in Solid State Sciences, num. 35 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-3-540-11515-1 |
| Format : | 296 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) |
| Mots-clés | Defects , Physical characterisation , Semiconductors , Spectroscopy , Transport |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 005878 | PMC8 SSS/S | papier | CNRS | PMC (PHYSIQUE DU SOLIDE) | Disponible |
