| Titre : | DEFECTS IN SEMICONDUCTORS : Proceedings of the MRS Annual Meeting, 1980 |
| Auteurs : | J. Narayan, Auteur ; T.y. Tan ; Defects in Semicondu (1980-11; Boston, MA, USA) |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Amsterdam : North-Holland, 1981 |
| Collection : | Materials Research Society Symposia Proceedings, num. 2 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-444-00596-0 |
| Format : | 537 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | MATE (MATERIAUX) |
| Mots-clés | Defects , Physical characterisation , Radiation effect , Semiconductors , Thermal treatments |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 005307 | MATE1 NAR/C | papier | CNRS | MATE (MATERIAUX) | Disponible |
