| Titre : | DIFFRACTION AND IMAGING TECHNIQUES IN MATERIAL SCIENCE : Volume II. Imaging and Diffraction Techniques |
| Auteurs : | S. Amelinckx, Auteur ; R. Gevers ; J. Van Landuyt |
| Type de document : | texte imprimé |
| Mention d'édition : | 2nd ed. |
| Editeur : | Amsterdam : North-Holland, 1978 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-444-85129-1 |
| Format : | 847-XVII p. / 23 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Diffraction , Electron microscopy |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 004419 PERDU | TECH2 AME | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Exclu du prêt |
