| Titre : | DIFFRACTION AND IMAGING TECHNIQUES IN MATERIAL SCIENCE : Volume I, Electron Microscopy |
| Auteurs : | S. Amelinckx, Auteur ; R. Gevers ; J. Van Landuyt |
| Type de document : | texte imprimé |
| Mention d'édition : | 2nd ed. |
| Editeur : | Amsterdam : North-Holland, 1978 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 0-444-85130-X |
| Format : | 848-XVII p. / 23 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Diffraction , Electron microscopy |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
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| 004418 PERDU | TECH2 AME | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Exclu du prêt |
