| Titre : | MICROSCOPY OF MATERIAL : Modern Imaging Methods Using Electron, X-Ray and Ion Beams |
| Auteurs : | D. K. Bowen, Auteur ; C. R. Hall |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York NY : Macmillan, 1975 |
| Format : | 304 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Chemical analysis , Microscopy , Topography , X-rays |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 003278 | TECH2 BOW | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
