| Titre : | PRACTICAL SCANNING ELECTRON MICROSCOPY : Electron and ion microprobe analysis. Foreword by T.E. Everhart |
| Auteurs : | J.i. Goldstein, Éditeur scientifique ; H. Yakowitz, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York NY : Plenum Press, 1975 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-306-30820-8 |
| Format : | xviii-582 p. / 24 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Electron microscopy , Scanning electron microscope |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 003181 | TECH2 GOL | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
