| Titre : | ELLIPSOMETRY : Proceedings of the 3rd International Conference on Ellipsometry, 1975 |
| Auteurs : | N.m. Bashara, Auteur ; R.m.a. Azzam ; Ellipsometry (1975-09-23/25; Univ. of Nebraska,NE) |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Amsterdam : North-Holland, 1976 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-0-7204-0493-7 |
| Format : | 518 p. / 25 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Experimental methods , Interferometry , Polarization , Spectrometer , Surface , Thin films |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 003175 | TECH2 BAS/C | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
