| Titre : | MODERN DIFFRACTION AND IMAGING TECHNIQUES IN MATERIAL SCIENCE : Proceedings of the International Summer Course on Material Science, Antwerp, 1969 |
| Auteurs : | S. Amelinckx, Auteur ; R. Gevers ; J. Van Landuyt ; Material Science (1969-07/08-28/08; Antwerp, BEL) |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Amsterdam : North-Holland, 1970 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 7204-0200-X |
| Format : | 746 p. / 23 cm |
| Langues : | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Diffraction , Electron microscopy |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 001813 | TECH2 AME/C | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
