| Titre : | MICROSCOPIE ELECTRONIQUE 1970 : Volume II Physique. Résumés des communications présentées au septième congrès international. Grenoble 30 août - 5 septembre 1970 |
| Auteurs : | Pierre Favard, Éditeur scientifique |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris : Société française de microscopie électronique, 1970 |
| Format : | 660 p. / 26 cm |
| Langues: | Anglais |
| Index. décimale : | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Mots-clés | Defects , Diffraction , Dislocations , Electron microscopy , Growth , Phase transformations , Surface |
Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 001488 | TECH2 FAV2/C | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Disponible |
