| Title: | MICROSCOPIE ELECTRONIQUE 1970 : Volume II Physique. Résumés des communications présentées au septième congrès international. Grenoble 30 août - 5 septembre 1970 |
| Authors: | Pierre Favard, Editor |
| Material Type: | printed text |
| Publisher: | Paris : Société française de microscopie électronique, 1970 |
| Size: | 660 p. / 26 cm |
| Languages: | English |
| Class number: | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) |
| Keywords | Defects , Diffraction , Dislocations , Electron microscopy , Growth , Phase transformations , Surface |
Copies (1)
| Barcode | Call number | Media type | Location | Section | Status | Commentaire |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 001488 | TECH2 FAV2/C | papier | CNRS | TECH (TECHNIQUES ET INSTRUMENTATION) | Available |
