Bibliothèque du groupe de laboratoires de physique

Campus CNRS Grenoble

Se connecter

Mot de passe oublié ?

Nouvelle recherche

Détail d'une collection

Springer Briefs in Applied Sciences and Technology

Editeur :

Springer

ISSN :

pas d'ISSN

Documents disponibles dans la collection (1)

Ajouter le résultat dans votre panier Affiner la recherche Interroger des sources externes

texte imprimé

FIELD EMISSION SCANNING ELECTRON MICROSCOPY : New perspectives for materials characterization

Nicolas Brodusch, Auteur ; Hendrix Demers, Auteur ; Raynald Gauvin, Auteur | Singapore : Springer | Springer Briefs in Applied Sciences and Technology | 2018

Plus d'information...

Ajouter au panier

Disponible